연구진이 인텔 뉴럴 컴퓨트 스틱 2(NCS2)에 대한 전자기 결함 주입(EMFI) 실험을 진행했어요. 실험은 ResNet-18, ResNet-50, VGG-11 세 개의 이미지넷 기반 컨볼루션 신경망을 OpenVINO 런타임에서 실행하는 동안 진행됐어요.
실험 결과, 결함 발생 시 정확도 변화 없음, 데이터 손상, 성능 저하, 장치 멈춤의 네 가지 결과가 나타났으며, 각각 no-effect, SDC, SEU, SEFI로 해석돼요.
주요 발견은 성능 저하가 18~31%의 시도에서 발생하며, 모델 재로딩 전까지 지속된다는 점과, 장치 유휴 상태에서도 동일한 현상이 발생한다는 점이에요.
연구진은 애플리케이션 수준에서 구현 가능한 완화 전략을 제안하며, 장치 펌웨어나 OpenVINO 런타임을 수정할 필요가 없다고 강조했어요.