연구진은 칩렛 기반 AI 시스템 온 칩의 신뢰성 검증 격차를 해소하기 위해 Known Good Die(KGD)에서 Known Good Reliable Die(KGRD)로의 전환을 제안했어요.
Bayesian 확률 모델과 안전 장치 결정을 통해 어셈블리 후 실패 확률을 보장하고, 불확실성을 고려한 처리 경계를 도출했어요.
Monte Carlo 시뮬레이션 결과, 제안된 방법이 신뢰성 제약 조건을 위반하지 않고 모델 개선을 제공하는 것을 확인했어요.