본 연구는 제한된 뷰와 각도에서 얻은 전자 투영 이미지를 복원하는 심층 이미지 사전(DIP) 기술을 소개합니다. DIP는 지도 학습 없이도 60도 제한 뷰와 10도 간격에서도 지도 학습 방식과 유사한 성능을 냅니다.
시뮬레이션 데이터 실험 결과, DIP는 기존 방식보다 3D 데이터 품질을 향상시킵니다.
실험 데이터 적용 결과, 희소 뷰와 제한된 각도 조건에서도 3D 정량화가 가능함을 보여주며 다양한 재료와 획득 방식에 활용 가능성을 제시합니다.