OMNIA는 LLM 출력에 대한 사후 구조적 측정 레이어로, 기존 시스템의 오탐을 줄이는 데 목표를 두고 있습니다. 작은 규모의 테스트에서 OMNIA는 기존 시스템보다 오탐을 7건 줄였지만, 검토 건수도 7건 증가했습니다. 개발자는 기술적 비판을 요청하며, 일반화된 효능은 주장하지 않고 특정 조건 하에서의 결과 감소를 보여주는 데 집중하고 있습니다.