연구진이 BLITZ(Broad-to-Local Independence Testing via residualiZation)라는 새로운 비모수 조건부 독립성 검정 방법을 개발했어요. 이 방법은 기존 방법보다 빠르면서도 정확한 교정 성능을 유지해요.
BLITZ는 먼저 저차수 다항 회귀를 통해 조건 집합에 대한 광범위한 의존성을 제거하고, 이후 작은 비선형 특징 매핑과 얕은 트리 회귀를 적용해 잔차를 계산해요.
시뮬레이션과 실제 데이터 실험에서 BLITZ는 기존 방법보다 더 나은 교정 성능을 보였으며, 원활한 원인 추론을 위한 빠른 속도와 정확성을 제공해요.